積層型セラミックチップコンデンサを対象とした低電圧用インパルス試験機の試作と等価回路の検討

電子機器基板に実装されているチップ型(最小0.4×0.2mm)コンデンサは大量に生産されている。しかし、その品質保証試験方法は確立されておらず、各メーカーが旧規格を参考に独自基準で行っている。そのため、鈴木さんは、基本となる品質保証試験方法の提案とその妥当性の検討を行った。

実測波形にノイズなどの影響を及ぼさないような工夫をしたインパルス試験機(瞬間的な電圧を発生させる機器)の試作をした。同機器を用いてコンデンサにかかる電圧波形などを実測し、等価回路の検討を行うことで、インパルス電圧を用いた品質保証試験の可能性を示した。

今後の展望について、「この研究が実を結べば、製品の良し悪しだけでなく、どのくらい電気が蓄えられ、どのくらいの電圧までなら耐えられるのかなど具体的な数値がわかる機器が作れるようになります。しかし今現在、原理検証などの基礎的な部分の検討をしている段階では、あらゆる課題が出てくる状態です。私は今年度で卒業のため、在学中に可能な限り課題に取り組み、後輩にしっかりと研究を引き継げるようにしたいと思います」と話した。

<指導教員:松本 聡 教授(電気工学科)>

※コンデンサ…静電容量(キャパシタンス)により電荷(電気エネルギー)を蓄えたり、放出したりする電子機器。

※インパルス電圧…過渡的に短時間出現する電圧で、急激に最高値まで上昇し、それを緩やかに降下するもの。